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对长期频率稳定度这一技术指标,恒温晶振封装尺寸,通常不以频率稳定度称呼,而改称为老化或者漂移,只有由噪声引起的频率不稳定性才称为频率稳定度或者短期频率稳定度,由于环境温度,供电电源电压和振荡器负载阻抗变化引起的频率变化,也不以频率稳定度相称,依次称之为频率温度特性,电源特性和负载效应。短期频率稳定度可称为相位噪声(频域)与抖动(时域),相位噪声还可细分为近端,恒温晶振型号,中端和远端相位噪声,恒温晶振,抖动很难表征近端和中端区域,因此短期稳定度是采用频域表征。
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1)频率准确度:按规定条件要求,在基准温度下测试,晶体振荡器的频率相对于其规定标称值的较大允许偏差,即(f-f0)/f0;
2)频率-温度稳定度:按规定条件要求,在规定温度范围内晶体振荡器输出频率的较大变化量相对于温度范围内输出频率极值之和的允许频偏值,即±(fmax-fmin)/(fmax+fmin);
3)频率老化:晶体振荡器输出频率随时间的变化,通常用某一时间间隔的频率来量度。如0至30天的总变化或1年内的预定总频率变化等;
4)工作温度范围:振荡器能正常工作。其频率及其他性能均不超过规定的允许偏差的温度范围;
说明: tcxo 的频率老化率为: ±0.2ppm~±2ppm (首年)和±1ppm~±5ppm (十年) (除特殊情况,tcxo 很少采用每天频率老化率的指标,因为即使在实验室的条件下,温度变化引起的频率变化也将---超过温度补偿晶体振荡器每天的频率老化,因此这个指标失去了实际的意义)。ocxo 的频率老化率为: ±0.5ppb~±10ppb/天(加电 72 小时后),±30ppb~±2ppm(首年),±0.3ppm~±3ppm(十年)。
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